Zaloguj się
Współpraca
z biznesem

IPPT/CB/10

Nazwa Centrum

Centrum Bio-nanomateriałów IPPT PAN, WIM PW, IWC PAN

Nazwa labolatorium

Laboratorium Modelowania i Obrazowania w Biomechanice

Lokalizacja:

IPPT PAN, 02-106 Warszawa, ul. Pawińskiego 5b, pok. nr 1/17

Nazwa aparatury:

Dyfraktometr rentgenowski wyposażony w szybki licznik pozycyjnie czuły i przystawkę kalometryczną DSC do badań mikrostrukturalnych

Opis aparatury:

Dyfraktometr rentgenowski D8 DISCOVER, Bruker AXS, z precyzyjnym dwukołowym goniometrem pionowym, z niezależnymi silnikami krokowymi i enkoderami optycznymi. Przyrząd umożliwia prowadzenie pomiarów w geometrii teta/teta i teta/2teta. Goniometr, jego akcesoria i detektor sterowane są za pomocą zintegrowanego mikroprocesora. Przyrząd jest wyposażony w lampę Cu (promieniowanie o długości 1.5418Å) w geometrii wiązki rozbieżnej Bragg-Brentano lub wiązki równoległej/zbieżnej (lustro Goebla). Pomiary są wykonywane z użyciem wysokoczułych detektorów – jednowymiarowego, półprzewodnikowego (paskowego, Lynx-Eye) lub dwuwymiarowego (VANTEC-500, o średnicy okna wynoszącej 140mm). Przyrząd jest wyposażony w różne stoliki, umożliwiające zamontowanie różnego typu uchwytów/próbek, łącznie z możliwością orientacji próbki (kompaktowe koło Eulera, stolik obrotowy, stolik przesuwny X,Y,Z). Aparat umożliwia pomiary zarówno w trybie reflektometrycznym jak i transmisyjnym. Przyrząd wyposażony jest dodatkowo w komorę temperaturową, umożliwiającą pomiary w zakresie -190°C do 450°C.

Wykorzystanie:

Dyfraktometr umożliwia wykonywanie następujących badań: ilościowa i jakościowa analiza fazowa (łącznie z bezwzorcową analizą faz krystalicznych metodą Rietvelda); badanie przemian fazowych w funkcji temperatury; wyznaczenie parametrów komórki elementarnej; pomiary naprężeń i tekstury; określenie wielkości krystalitów; ocena stopnia krystaliczności; analiza strukturalna w zakresie niskich kątów ugięcia (SAXS), np. charakterystyka struktur o wymiarach nanoskopowych.

Rodzaje usług świadczonych na aparaturze:

  • analiza strukturalna w zakresie wysokich (WAXS) i niskich (SAXS) kątów ugięcia wiązki;
  • ocena stopnia krystaliczności;
  • ilościowa i jakościowa analiza fazowa.

Zdjęcia aparatury: